(I)顕微鏡観察 |
透過電子顕微鏡(TEM)
集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
走査電子顕微鏡(SEM)
走査プローブ顕微鏡(SPM)
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(U)表面分析 |
X線光電子分光装置(XPS)
飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
オージェ電子分光装置(AES)*
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(V)光分析 |
顕微赤外分光測定装置(FT-IR)
顕微ラマン分光測定装置
紫外可視・近赤外分光光度計
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(W)構造解析 |
核磁気共鳴装置(NMR)
X線回折装置(XRD)※
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(X)質量分析 |
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計(MALDI-TOFMS)
液体クロマトグラフ質量分析計(LC-MS)
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(Y)組成分析 |
電子プローブマイクロ分析装置(EPMA)*
蛍光X線分析装置(XRF)*
卓上蛍光X線分析装置(XRF)
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(Z)熱分析 |
熱分析装置(DSC・TGA)
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([)X線観察 |
マイクロフォーカスX線CT*
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(\)電磁環境試験 |
電波暗室、エミッション測定装置*、イミュニティ試験装置*、耐ノイズ評価試験装置*
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